晶 圓 外觀檢查 | 化學工廠資訊網
![晶 圓 外觀檢查](https://i.imgur.com/lO00bdM.jpg)
WaferAVI是一套精心研發設計的自動外觀檢查系統,整合光學及視覺專業技術,提供完善的解決方案,其穩定的模組化機構大幅縮減後勤維護時間,非常適合高品質低成本的 ...,晶圓Chip外觀檢查機.伺服馬達軸搭配光學尺,其往復定位精度於±3um,提供光學模組精準定位。,Chroma7945製程中晶圓外觀檢查系統為自動化的切割前/後晶粒檢測設備。切割後晶粒可以同時間進行正反兩面的晶粒外觀檢查,使用可替換組件設計,能夠轉換未切割晶圓以及 ...,晶圓外觀自動檢查系統,整合光學及視覺專業技術,提供完善的解決方案,其穩定的模組化機構大幅縮減...
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晶圓外觀檢查機 | 化學工廠資訊網
Wafer AVI是一套精心研發設計的自動外觀檢查系統,整合光學及視覺專業技術,提供完善的解決方案,其穩定的模組化機構大幅縮減後勤維護時間,非常適合高品質低成本的 ... Read More
晶圓Chip外觀檢查機 | 化學工廠資訊網
晶圓Chip外觀檢查機. 伺服馬達軸搭配光學尺,其往復定位精度於±3um,提供光學模組精準定位。 Read More
製程中晶圓外觀檢查系統Model 7945 | 化學工廠資訊網
Chroma 7945製程中晶圓外觀檢查系統為自動化的切割前/後晶粒檢測設備。切割後晶粒可以同時間進行正反兩面的晶粒外觀檢查,使用可替換組件設計,能夠轉換未切割晶圓以及 ... Read More
晶圓外觀檢查機 | 化學工廠資訊網
晶圓外觀自動檢查系統,整合光學及視覺專業技術,提供完善的解決方案,其穩定的模組化機構大幅縮減後勤維護時間,非常適合高品質低成本的檢測需求。多組LED 光源切換,可 ... Read More
晶圓外觀檢查機 | 化學工廠資訊網
檢. 測. 樣. 品. 樣品樣式, 晶圓玻璃基板. 尺寸範圍, 8“~12wafer. 精度要求, 最小檢出尺寸10╳10um. 檢測專案, 外觀缺陷檢查(外物沾黏、髒汙、龜裂、刮傷…等等). Read More
晶圓外觀檢查裝置(Vi series) | 化學工廠資訊網
Vi-4202R, Vi-4304C. Camera, 4M Monochrome, 4M Color. Wafer Size, ~200mm, ~300mm. Handling, Robot. Loader, Open Cassette, Open Cassette, FOUP, FOSB. Read More
晶圓片外觀檢查機-羽昌科技股份有限公司 | 化學工廠資訊網
晶圓片外觀檢查機. 簡介: 中空式XY軸線性馬達定位平台結合雷射探頭,可量測基板的厚度與翹曲,並結合影像量測裝置,進行外徑與瑕疵檢測。平台底部搭載LIFT PIN,自動頂 ... Read More
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